HAST 高压加速老化试验箱

HAST/PCT 高压加速老化

HAST 高压加速老化试验箱

高压高温高湿加速老化,130℃/85%RH 条件下大幅缩短封装器件可靠性验证周期。

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产品详情

HAST(Highly Accelerated Stress Test)以高温高压高湿条件加速水汽渗透,用较短时间评估封装器件的耐湿可靠性。

相较传统湿热试验,验证周期可显著缩短,适合研发阶段与来料批次一致性比对。

结构特点

  • 不锈钢压力容器,工作压力 0.2~0.3MPa,安全阀与压力联锁双重保护。
  • 饱和与非饱和两种模式,满足不同加速模型需求。
  • 腔体快速升温与干湿球独立控制,温度均匀度 ≤ ±1℃。

主要参数

温度范围+105℃ ~ +145℃
湿度范围65% ~ 100%RH
工作压力0.2 ~ 0.3MPa
腔体材质SUS316L

适用场景

  • IC 封装与塑封料吸湿验证
  • 被动器件与传感器加速老化
  • PCB 绝缘可靠性评估

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